<P >Book : Statistical Methods for Reliability Data <o:p></o:p></P>
<P >Author : William Q. Meeker; Luis A. Escobar<o:p></o:p></P>
<P >Publisher : Wiley<o:p></o:p></P>
<P >Format : djvu<o:p></o:p></P>
<P >Contents :<o:p></o:p></P>
<P >1. Reliability Concepts and Reliability Data. <o:p></o:p></P>
<P >2. Models, Censoring, and Likelihood for Failure-Time Data <o:p></o:p></P>
<P >3. Nonparametric Estimation. <o:p></o:p></P>
<P >4. Location-Scale-Based Parametric Distributions <o:p></o:p></P>
<P >5. Other Parametric Distributions. <o:p></o:p></P>
<P >6. Probability Plotting <o:p></o:p></P>
<P >7. Parametric Likelihood Fitting Concepts: Exponential Distribution <o:p></o:p></P>
<P >8. Maximum Likelihood for Log-Location-Scale Distributions<o:p></o:p></P>
<P >9. Bootstrap Confidence Intervals.<o:p></o:p></P>
<P >10. Planning Life Tests<o:p></o:p></P>
<P >11. Parametric Maximum Likelihood: Other Models <o:p></o:p></P>
<P >12. Prediction of Future Random Quantities <o:p></o:p></P>
<P >13. Degradation Data, Models, and Data Analysis. <o:p></o:p></P>
<P >14. Introduction to the Use of Bayesian Methods for Reliability Data <o:p></o:p></P>
<P >15. System Reliability Concepts and Methods <o:p></o:p></P>
<P >16. Analysis of Repairable System and Other Recurrence Data <o:p></o:p></P>
<P >17. Failure-Time Regression Analysis. <o:p></o:p></P>
<P >18. Accelerated Test Models <o:p></o:p></P>
<P >19. Accelerated Life Tests <o:p></o:p></P>
<P >20. Planning Accelerated Life Tests <o:p></o:p></P>
<P >21. Accelerated Degradation Tests <o:p></o:p></P>
<P >22. Case Studies and Further Applications. <o:p></o:p></P>
<P >Epilogue. <o:p></o:p></P>
<P >Appendices. <o:p></o:p></P>
<P >References. <o:p></o:p></P>
<P >Indexes. <o:p></o:p></P><BR>