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光纤面板暗影全景及棋盘格缺陷检测方法研究
光纤面板是二十世纪五十年代中期出现的一种光学传像器件，这种光学器件具有非常好的集光能力及高分辨率等优点。然而，受制作工艺与工作环境的制约与影响，使得光纤面板制造中存在着不可避免的各种瑕疵，严重影响传像质量，这类瑕疵被统称为光纤面板缺陷。
随着科技的发展进步，各个应用领域对这种器件的传像性能要求变得越来越苛刻，细节精度问题日趋尖锐，因此，研究各种缺陷的性质，并对光纤面板缺陷实现定量、高速和高精度的检测，是实现高精度传像的必要保证。本文首先研究光纤面板存在的部分缺陷的性质和特点，以国家机械电子工业部制定的测试方法为检测依据，研究并提出了斑点、暗带、鸡丝、暗影全景、棋盘格的检测理论与分析方法。
其次，设置硬件系统参数及选择软件系统开发工具，完成光纤面板透光图像的采集工作，并在暗影缺陷自动检测系统研究的基础上，借助于图像拼接技术实现整张光纤面板暗影缺陷的全景检测，输出整张光纤面板上所有暗影缺陷的主要特征参数，并对比已有的局部区域暗影缺陷检测结果，证明暗影分布个数均匀但暗影分布的面积不均匀，暗影全景检测结果更具有代表性。最后，研究图像处理技术、相似度算法 ...
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