三维面板2SLS回归之后,关于Hansen J 统计量的问题

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请问三维面板用ivreghdfe做完2SLS之后，Hansen J 统计量显示 equation exactly identified，是不是有什么问题？问题在哪呀？
Underidentification test (Kleibergen-Paap rk LM statistic):           2388.044
                                                   Chi-sq(1) P-val =    0.0000
------------------------------------------------------------------------------
Weak identification test (Cragg-Donald Wald F statistic):              3.2e+04
                         (Kleibergen-Paap rk Wald F statistic):       9576.636
Stock-Yogo weak ID test critical values: 10% maximal IV size              7.03
                                         15% maximal IV size              4.58
                                         20% maximal IV size              3.95
                                         25% maximal IV size              3.63
Source: Stock-Yogo (2005).  Reproduced by permission.
NB: Critical values are for Cragg-Donald F statistic and i.i.d. errors.
------------------------------------------------------------------------------
Hansen J statistic (overidentification test of all instruments):         0.000
                                                 (equation exactly identified)

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关键词：Hansen 2SLS ans 统计量 Instruments stata 三维面板 工具变量 两阶段最小二乘法

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请问楼主，问题解决了吗？我也遇到相同的问题

果内生变量的数目和工具变量的数目完全相同。此时无需执行过度识别检验，因为模型是恰足确认的（equation exactly identified）。来源工具变量的几个检验标准 - 知乎
https://zhuanlan.zhihu.com/p/180073096

遇到同样问题，楼主怎么解决的，求助啊  楼主怎么联系？我的qq393745164

工具变量个数等于内生解释变量个数（个人理解），不存在过度识别的问题，因此是equation exactly identified