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面板数据很少做异方差和自相关检验,对于一般的短面板,可以用聚类稳健标准误来修正异方差和自相关问题。以双向固定效应为例,具体代码为reg y x1 x2 x3 i.id i.year, vce(cluster id)或者xtreg y x1 x2 x3 i.year, vce(cluster id)。
如果一定要检验异方差和自相关,命令如下(还是以双向固定效应为例):
1. 组间异方差检验
ssc install xttest3(安装非官方命令xttest3,如果已安装则不用此命令);
xtset id year;
xtreg y x1 x2 x3 i.year, fe;
xttest3;
2. 组内自相关检验(需安装命令xtserial,以n=31,t=10为例)
xtset id year;
tab id, gen(id);
tab year, gen(year);
xtserial y x1 x2 x3 id2-id31 year2-year10;
3. 对截面相关检验(非平衡面板一般不适用)
ssc install xtcsd;
xtset id year;
xtreg y x1 x2 x3 i.year, fe;
xtcsd frees/xtcsd pesaran。
第三个检验,也就是对截面相关的检验,在很多时候都报错,具体什么原因我也不清楚。
顺便说一句,一般而言,用聚类稳健标准误的显著性,也就是考虑自相关之后的显著性,相比普通标准误都要差一些,这是因为对于每一个个体,自相关一般是正向的,因而会低估标准误(如果是负向,用普通标准误会高估标准误)。所以你的结果现在不显著,考虑了自相关之后很有可能还是不显著。
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