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光电设计竞赛是检验光电专业知识应用与创新实践能力的重要平台，“大孔径深度测量” 作为典型赛题，涉及上位机开发、单片机编程、电路设计及成果答辩等多环节。但参赛者常面临技术资料零散、代码调试困难、文档规范缺失等问题，导致备赛效率低、作品完整性不足。
本资源聚焦光电设计竞赛 “大孔径深度测量” 方向，整合从硬件到软件、从设计到答辩的全流程资料，经实际竞赛验证，能为参赛者提供一站式技术支持，助力高效备赛并提升作品质量。
资源内容概述
上位机相关：包含 “光电设计竞赛大孔径深度测量上位机” 文件夹及对应文件，实现深度测量数据的接收、处理与可视化展示，界面友好，操作便捷。
单片机开发：提供 “大孔径深度测量单片机源代码” 文件夹与压缩包，代码注释清晰，包含传感器数据采集、与上位机通信等核心功能，支持快速烧录调试。
硬件设计：附带 “大孔径深度测量原理图.SchDoc”，详细呈现电路连接逻辑，为硬件制作、故障排查提供精准参考。
适配场景：适用于光电设计竞赛备赛、光电专业课程设计、相关科研项目前期开发等场景，满足不同阶段对大孔径深度测量技术资料的需求。
适用人群：光电信息科学与工程等相关专业学生、光电领域科研人员、电子设计爱好者。
光电设计竞赛大孔径深度测量全套资源：上位机 + 单片机代码 + 原理图
(85 Bytes, 需要: RMB 40 元)
京公网安备 11010802022788号
