一、基本概念与核心原理
场效应晶体管(FET)是一种通过电场效应调控输出电流的电压控制型半导体器件。与依赖电流控制的双极型晶体管(BJT)不同,FET利用栅极电压调节导电沟道的宽窄,进而控制漏极和源极之间的电流流动。
1. 三大电极功能说明
- 栅极(G, Gate):作为控制端,施加电压以形成调控电场。其输入阻抗极高,在理想情况下不消耗直流电流。
- 源极(S, Source):是载流子(电子或空穴)的起始来源,通常作为电路中的公共参考点。
- 漏极(D, Drain):载流子流出的终端电极,常连接负载或电源部分。
2. 主要特性总结
- 电压驱动机制:由
(栅源电压)决定V_GS
(漏极电流)的大小。I_D - 高输入阻抗表现:由于栅极与沟道之间处于绝缘状态(如MOSFET)或反向偏置(如JFET),其直流输入电流极低,可达nA级别甚至更低。
- 单极性导电方式:仅依靠一种类型的载流子(电子或空穴)进行导电,因此被称为“单极型”器件;而BJT则属于“双极型”。
- 具备良好的热稳定性,制造工艺相对简单,适合大规模集成电路集成应用。
二、金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)详解
MOSFET是当前应用最为广泛的场效应晶体管类型,构成了现代数字集成电路(如CPU、内存芯片等)的核心基础。
1. 结构与工作模式分类
MOSFET的基本结构包括在半导体衬底上形成的两个高掺杂区域(分别作为源极和漏极),其上方覆盖一层极薄的二氧化硅绝缘层,再在其上设置金属或多晶硅材质的栅极。该结构实现了栅极与沟道之间的完全电气隔离。
增强型 N沟道 MOSFET
- 初始状态:当
时,源极与漏极间无导电路径,V_GS = 0
,器件处于关闭状态。I_D = 0 - 导通机理:当施加正向栅源电压
,栅极吸引衬底中的自由电子聚集于绝缘层下方,形成反型层——即N型导电沟道。V_GS > 0 - 开启条件:只有当
达到特定阈值电压V_GS
时,沟道才正式建立,器件开始导通。随着V_th
增大,沟道变宽,V_GS
随之上升。I_D - 记忆技巧:“正电压增强沟道”。
耗尽型 N沟道 MOSFET
- 初始状态:因制造过程中已在绝缘层中引入正离子,导致源漏之间已存在原始导电沟道。即使
,仍有V_GS = 0
流过。I_D - 调控过程:
:原有沟道保持导通。V_GS = 0
:施加负栅压,排斥沟道内电子,使沟道变窄,V_GS < 0
下降。I_D
继续减小至夹断电压V_GS
时,沟道消失,V_p
,器件截止。I_D = 0
- 特点:可实现“常闭”开关功能。尽管实际应用较少,但在某些模拟电路设计中有其独特价值。
P沟道 MOSFET 类型分析
- 以空穴为主要载流子,其电压极性要求与N沟道相反。
- 增强型PMOS:需
为负值且低于负的阈值电压V_GS
方可开启。V_th - 耗尽型PMOS:原理类似,但实际产品极为罕见。
符号识别规则汇总
| 类型 | 符号特征 | 箭头方向 | 沟道线样式 | N沟开启条件 | P沟开启条件 |
|---|---|---|---|---|---|
| 增强型N-MOS | 略 | 指向内 | 虚线 | (正) |
N/A |
| 增强型P-MOS | 略 | 指向外 | 虚线 | N/A | (负) |
| 耗尽型N-MOS | 略 | 指向内 | 实线 | (通常为正) |
N/A |
| 耗尽型P-MOS | 略 | 指向外 | 实线 | N/A | (通常为负) |
2. 管脚定义与封装信息
以TO-220封装(常见功率型封装)为例:
- 将元件引脚朝下,标签面正对自己。
- 从左至右依次为:
- Gate(栅极)
- Drain(漏极)
- Source(源极)
注:部分型号中,漏极可能与金属背板相连,用于提升散热性能。
对于SMD表面贴装封装,通常用一个小圆点或其他标记表示Source或Pin 1位置。但由于不同厂商和封装形式差异显著,必须查阅具体型号的数据手册确认管脚排列。
重要补充:体二极管的作用
在MOSFET制造过程中,源极与漏极之间会自然形成一个PN结,称为体二极管(也称寄生二极管)。这一结构在实际电路中具有关键作用:
- 在N-MOS中,体二极管的阴极位于漏极,阳极位于源极。
- 它等效于一个与MOSFET并联的二极管,在开关感性负载(如电机、继电器)时,为反向电动势产生的续流提供通路,有效防止高压击穿器件。
三、典型应用场景解析
1. 数字电路中的开关应用
工作模式:运行于截止区(
V_GS < V_th)与可变电阻区(V_GS > V_th且V_DS较小)。
典型实例:CMOS反相器、各类逻辑门电路、存储单元等。通过一个N-MOS与一个P-MOS构成互补结构,实现极低的静态功耗。
电路图示意:
Vdd (+5V)
|
P-MOS
|---- 输出
N-MOS
|
GND
(输入同时接P-MOS和N-MOS栅极)
2. 模拟信号放大应用
工作区域:饱和区(又称恒流区)。
在此区域内,
I_D几乎不受V_DS影响,主要由V_GS控制,表现出优良的受控电流源特性。
典型应用包括:共源极放大器、运算放大器的输入级、恒流源电路等。
典型电路结构:采用共源放大配置,漏极通过一个负载电阻连接到电源,输出信号从漏极取出。当
V_GS发生微小变化时,会引起I_D的显著波动,进而在漏极电阻上产生较大的电压增益。
3. 功率电子系统中的应用
工作原理:作为高速电子开关,广泛应用于电机驱动、LED调光、开关电源等领域。
代表性案例:H桥电机驱动电路,能够实现电机正反转控制。
电路示意图:
Vbus
|
[Q1 (High-side P-MOS)] --- A --- 电机 --- B --- [Q3 (Low-side N-MOS)]
| |
[Q2 (High-side P-MOS)] ------------[Q4 (Low-side N-MOS)]
| |
GND GND
(通过控制Q1-Q4的开关,在A、B点产生不同电位,驱动电机正反转)四、结型场效应管(JFET)
JFET属于较早发展的半导体器件,其结构相对简单,栅极与导电沟道之间通过PN结实现隔离。由于其独特的电学特性,在特定应用中仍具价值。
1. 工作原理与分类
N沟道 JFET
结构: 在N型半导体材料的两端分别引出源极和漏极,同时在两侧形成P型区域并引出栅极,构成两个背对背的PN结。
工作原理:
- 正常工作时,栅源之间的PN结必须处于反向偏置状态(
)。V_GS < 0
:此时导电沟道最宽,V_GS = 0
达到最大值(I_D
)。I_DSS
:随着反向电压增大,PN结耗尽层扩展,压缩导电通道,导致V_GS < 0
逐渐减小。I_D- 当栅源电压达到
(即夹断电压,通常为负值)时,沟道被完全关闭,V_GS = V_p
。I_D ≈ 0
记忆技巧: “负电压耗尽沟道”。需要特别注意的是,JFET仅存在耗尽型,无法像MOSFET那样分为增强型和耗尽型。
P沟道 JFET
其结构和工作方式与N沟道JFET呈对称关系,但所有电压极性相反。要实现有效控制,
V_GS需施加正电压。
符号识别规则: 栅极箭头指向沟道表示N沟道;箭头向外则代表P沟道。无论类型如何,沟道线始终用实线表示。
2. 特性与典型应用
优点: 具有较低的噪声水平、良好的线性度以及较强的抗静电能力。
缺点: 虽然输入电阻较高(源于反向偏置的PN结),但仍低于MOSFET(因后者采用绝缘栅结构);此外,其制造工艺难以与主流CMOS工艺兼容。
主要应用场景包括:
- 作为高输入阻抗放大器的输入级,例如某些精密仪表放大器中。
- 用于模拟开关电路。
- 在
非常小的情况下,工作于可变电阻区,实现压控电阻功能。V_DS
五、深入理解与对比分析
| 特性 | MOSFET(增强型) | JFET |
|---|---|---|
| 控制方式 | 依靠绝缘栅产生的电场感应来调控沟道 | 通过PN结反向偏置改变耗尽区宽度以控制沟道 |
| 输入阻抗 | 极高(>10 Ω),直流电流几乎为零 | 高(10–10 Ω),存在微弱的反向漏电流 |
| 类型 | 包含增强型与耗尽型 | 仅有耗尽型 |
| 静电敏感性 | 极高(栅氧化层极薄,易遭击穿) | 相对较低 |
| 工艺与集成度 | 与CMOS工艺完全兼容,是现代集成电路的核心 | 不易融入MOS工艺流程,集成度较低 |
| 主要应用领域 | 广泛应用于数字电路、功率开关、模拟开关及放大器 | 常见于低频低噪声放大器、模拟开关、压控电阻等场合 |
| 符号中的沟道线 | 增强型为虚线,耗尽型为实线 | 始终为实线 |
| 开启/关断条件 | 增强型N-MOS在时导通 |
N-JFET在下工作,当时达到最大 |
关键工作区域说明:
- 截止区: 沟道未形成或已被完全夹断,
,对应开关应用中的“关”态。I_D ≈ 0 - 可变电阻区 / 三极管区: 当
很小时,FET表现为一个由V_DS
调节的可变电阻,适用于开关“开”态及模拟开关设计。V_GS - 饱和区 / 恒流区:
足够大时,V_DS
基本不受I_D
影响,仅由V_DS
决定,是放大电路的主要工作区。对于MOSFET,该区域也被称为“有源区”。V_GS
六、总结
为何MOSFET占据主导地位?
因其具备极高的输入阻抗和优异的开关性能——截止时功耗极低,导通时电阻极小,非常适合构建超大规模、超低功耗的数字系统。CMOS技术正是现代计算机体系的物理基石。
体二极管的作用:
这是MOSFET内部固有的寄生二极管,在实际电路设计中不可忽视。尤其在驱动感性负载时起到关键保护作用,但也可能引入反向恢复损耗,影响效率。
驱动注意事项:
尽管MOSFET是电压控制型器件,但其栅极存在寄生电容(
C_gs、C_gd)。在高频开关操作中,必须快速完成栅极电容的充放电过程,因此往往需要使用专用的栅极驱动IC提供足够的瞬态电流支持。
安全工作区(SOA):
在功率应用中,必须确保MOSFET运行在数据手册规定的电压、电流和温度限制范围内,尤其应避免进入二次击穿区域,以防器件损坏。


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