微电子产品可靠性
SiO2上小晶粒(<1μm)Al膜高温少循环表面再结构的SEM照片 左图为热处理前,右图为热处理后(T=400℃, 10次循环每次15分钟)
2,低温多循环再结构―电极温度低、变化大,变化次数多。
⑴ 特点:金属化表面粗糙不平,出现皱纹;⑵ 皱纹产生原因:压缩疲劳引起的塑性形变;⑶ 后果:使Al膜的晶粒长大,变胖,长出晶瘤,常常是短间距的金属化器件极间瞬时短路的主要原因之一。
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楼主: 打了个飞的
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[课件与资料] 微电子产品可靠性 |
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