第五章锥光镜下的晶体光学性质

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第五章锥光镜下的晶体光学性质
非均质体矿物得光学性质因方向而异,垂直不同方向得入射光得光率体切面不同,其长短半径在薄片平面上得方位不完全相同,她们与上、下偏光镜振动面方向AA、PP之间得关系不完全相同。许多不同方向入射光波同时通过矿片后,到达上偏光镜所发生得消光与干涉效应也各不相同。因此,锥光镜下观察到得,应当就是各个不同方向入射光通过矿片后所产生得消光与干涉效应得总合。她们构成特殊得图形,称为干涉图。
用高倍物镜得目得在于能接纳较大范围得倾斜入射光波(图73)。低倍物镜得数值孔径小,工作距离长,通常只能接纳与薄片法线成5°夹角以内得光波,与平行薄片法线得入射光波较接近(基本上相当于平行光波),干涉图不完整而且不清楚。 高倍物镜得数值孔径较大,工作距离短,通常能接纳与薄片法线成60°夹角以内得倾斜入射光,其干涉图较完整而且较清晰。
   
一般说来,放大倍率相同得高倍物镜,其数值孔径愈大,干涉图愈完整。

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