请教面板单位根检验

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请教各位高手，关于面板数据的单位根检验方法的选择。教材里讲到，面板单位根检验分为两大类：第一类检验方法假设截面不相关（又细分为同质与异质面板假设）；第二类假设截面相关（通常为异质面板假设）。我的问题是：
1.对面板数据做单位根检验之前，首先要判断是否存在截面相关，这一步骤在Eviews7.0中如何操作？2.Eviews7.0目前只提供截面不相关假设下的几种检验方法（LLC、Breitung、IPS、Fisher-ADF、Fisher-PP）；若实际数据存在截面相关，Eviews7.0能否实现，是否需要编程解决？
3.我看了一些文献，包括近年发表的CSSCI期刊文章，发现多数作者做面板数据单位根检验时，只采用“截面不相关”假设的几种方法。如果所分析的数据存在截面相关，这样做是否影响单位根检验结果的准确性？


十分感谢各位高手相助！

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Chang、Bai、Ng以及Pesaran提出了界面弱相关的假设，并且提出的PANIC方法，这种方法允许截面弱相关和共同因子结构的同时存在,是目前适用性最广泛的方法。但是貌似没有现成检验方法，都是需要编程的

火山会打嗝 发表于 2015-1-15 14:58
Chang、Bai、Ng以及Pesaran提出了界面弱相关的假设，并且提出的PANIC方法，这种方法允许截面弱相关和共同因 ...

你说的都没听过啊，好高深！