X射线检测是一种不会损坏物体本身的无损检测方法,已广泛应用于材料检验(QC)、失效分析(FA)、质量控制(QC),质量保证和可靠性(QA/REL)、研发(R&D)等领域。
集成电路中半导体的生产过程包括晶圆制造、晶圆测试、芯片封装和封装后测试。在半导体行业,X射线检测设备通常用于检测芯片和晶圆的质量,以及制造过程中的潜在缺陷。按精度要求可分为微米级和百纳米级,按检测类型可分为二维检测设备和3D/CT检测设备。封装测试是集成电路行业的重要部门之一,约占整个集成电路行业三分之一。
半导体制造X射线测量和检测设备,全球前17强生产商排名及市场份额(by QYResearch).docx
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