足月新生儿缺氧缺血性损伤的mr成像要点与误区

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足月新生儿缺氧缺血性损
的MR成像：要点与误区
文章来源：RadioGraphics
大纲
1、不同影像学检查方法2、足月新生儿正常MR表现3、足月新生儿缺氧缺血性脑病（HII）MR表现:（外周模式、基底神经节-丘脑模式、全脑损伤）4、先进的成像技术：MRS、DTI5、影像学表现的时间演变过程
简介
缺氧缺血性损伤（HII），也称为缺氧缺血性脑病，是指由缺氧或局部缺血事件导致的新生儿脑病的亚组。围产期窒息是本症的主要病因。凡是造成母体和胎儿间血液循环和气体交换障碍使血氧浓度降低者均可引起窒息。由宫内窒息引起者占50%；娩出过程中窒息占40%；先天疾病所致者占10%。 每1000个活产婴儿中，1至4个婴儿可能为HII(取决于定义缺氧性脑病的指标)。在幸存者中，多达25％表现出永久性神经损伤，通常表现为脑瘫，智力低下或癫痫发作等。近年来，由于磁共振(MR)的应用，能够早期发现病变并采取相应预防措施，同时也用

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