半导体探测器信号成形中弹道亏损的影响因素探究

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1 论文标题：半导体探测器信号成形中弹道亏损的影响因素探究

2 作者信息：陈华旻*, 易典洪, 康艺洁, 肖海瑞#, 张 南：成都工业学院电子工程学院，四川 成都

3 出处和链接：陈华旻, 易典洪, 康艺洁, 肖海瑞, 张南. 半导体探测器信号成形中弹道亏损的影响因素探究[J]. 核科学与技术, 2025, 13(4): 185-192. https://doi.org/10.12677/nst.2025.134019

4 摘要：半导体探测器信号成形过程中，成形网络中电容的充放电会导致信号幅度出现弹道亏损，影响系统的能量分辨率和测量精度。根据探测器输出信号特性与信号成形电路特点，系统探究了弹道亏损的影响因素及内在机制。结果表明，弹道亏损不仅受信号成形电路参数(时间常数、级数)的制约，还与探测器外加电压、几何构型及材料特性密切相关。在实际应用中，可通过增加成形电路RC级的数目、提高探测器的外加电压和载流子迁移率来减小信号在成形网络中的弹道亏损。此外，探测器几何形状也是影响弹道亏损的关键因素，在同等条件下，选用厚度较小的探测器有助于降低信号的弹道亏损。本研究阐明了各因素间的耦合关系及其对弹道亏损的影响，为优化半导体探测器及其读出电子学设计、最小化弹道亏损效应并最终提升探测器系统性能提供了理论依据和实践指导。

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关键词：影响因素 半导体 探测器 电子工程 HTTP