请问各位计量高手,有谁尝试过对面板数据做差分以后在做门限(门槛)回归的??
一般我们用DID的方法,做过差分以后就是将差分过的数据进行OLS回归得出结果。那么可不可以在差分过以后,将差分过的数据进行门槛回归呢??这样可以找出政策冲击对某一变量影响的拐点。
比如,出口政策变化对出口商品的产量有影响,但是这种影响可能在不同价格的商品之间是有差异的,可不可以通过门槛模型找出差异的价格???
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楼主: xxbxxb789456
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[学科前沿] 差分(DID)和门限(门槛)模型的结合 |
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