LR检验
xsmle y x1 x2 x3,fe model(sdm)wmat(w)type(both)nolog effects
est store sdm
xsmle y x1 x2 x3,fe model(sar)wmat(w)type(both)nolog effects
est store sar
xsmle y x1 x2 x3,fe model(sem)emat(w)type(both)nolog effects
est store sem
lrtest sdm sar //原假设H0:SDM模型可以退化成为SAR模型
lrtest sdm sem //原假设H0:SDM模型可以退化成为SEM模型