[文献] Drop Test Simulation of Electronic Devices using Finite Element Method [推广有奖]

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楼主

victorbian

发表于 2019-7-27 22:30:12 |AI写论文

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【作者(必填)】David Cadge

ABAQUS 2006Inc., Rising Sun Mills, 166 Valley Street, Providence, RI 02909-2499 USA

; HJ. Jason Wang ; Rui Bai ; Ping Gong

【文题(必填)】Drop Test Simulation of Electronic Devices using Finite Element Method
【年份(必填)】

【全文链接或数据库名称(选填)】https://ieeexplore.ieee.org/document/4430635

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关键词：electronic Simulation Electron Element ulation

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沙发

经世eco 发表于 2019-7-27 22:30:13

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藤椅

爱我别走kobe 发表于 2019-7-27 23:19:38

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