楼主: 渣渣发
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[面板数据求助] 面板内生性 [推广有奖]

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渣渣发 发表于 2020-5-11 11:16:21 来自手机 |只看作者 |坛友微信交流群|倒序 |AI写论文

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关键词:内生性 XTIVREG IVREG 2SLS 面板数据

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渣渣发 发表于 2020-5-11 11:17:29 来自手机 |只看作者 |坛友微信交流群
渣渣发 发表于 2020-5-11 11:16
请问一下大家,面板数据做fe-2sls如何控制异方差和自相关?(我用的命令是xtivreg2)
还有一个问题,用关键变量的滞后作为工具变量,最多可以滞后几阶呢?

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藤椅
刘阔 学生认证  发表于 2020-5-11 11:52:19 |只看作者 |坛友微信交流群
同样问题

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板凳
Sea.Zeng 发表于 2020-5-11 13:06:54 |只看作者 |坛友微信交流群
1. 控制异方差和自相关问题,用聚类稳健标准误即可;
2. 最多可以滞后几阶,通常说来,用滞后期的工具变量都不是很好(因为这种工具变量的外生性很难得到保证,而且还不方便去定性讨论)。如果你一定要用,滞后几阶并没有特殊的要求,但是滞后太少,工具变量的外生性无法令人信服;滞后太多,相关性又很难保证,所以需要你自己去权衡。

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渣渣发 发表于 2020-5-11 18:34:10 来自手机 |只看作者 |坛友微信交流群
Sea.Zeng 发表于 2020-5-11 13:06
1. 控制异方差和自相关问题,用聚类稳健标准误即可;
2. 最多可以滞后几阶,通常说来,用滞后期的工具变量 ...
感谢,还有一个问题,关于弱工具变量的检验问题,Cragg-Donald Wald F和Kleibergen-Paap rk Wald F两个统计量,其原假设为什么?(我看网上有两种相反的说法),您能给解答一下吗?

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Sea.Zeng 发表于 2020-5-11 19:23:33 |只看作者 |坛友微信交流群
渣渣发 发表于 2020-5-11 18:34
感谢,还有一个问题,关于弱工具变量的检验问题,Cragg-Donald Wald F和Kleibergen-Paap rk Wald F两个统 ...
这两个统计量,前一个基于同方差假设,后一个不用。因此在聚类稳健标准误下,看后一个就可以。这个统计量越大,代表相关性越强,从经验上来看,大于10就可以。如果要证据更充分,可以看是否大于10% maximal IV size(也有用15% maximal IV size的)。顺便提一句,就工具变量的相关性和外生性而言,更重要的不是“检验”,而是“说明”。论述越充分,证据越明确,越让人信服。

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